UL在臺成立印刷電路板性能測試服務(wù)實驗室
10月20日，UL在臺灣建設(shè)的印刷電路板性能測試服務(wù)實驗室正式成立，這為臺灣印刷電路板上下游提供更完整的產(chǎn)品規(guī)范測試及檢測服務(wù)。
為配合產(chǎn)業(yè)發(fā)展，UL認為臺灣是印刷電路板制造業(yè)的重鎮(zhèn)，選擇在臺灣發(fā)展最新印刷電路板性能測試服務(wù)實驗室，主要提供三項可靠度與性能測試服務(wù)，包括CAF(陽極玻纖紗電化學(xué)遷移成長)及IST (互連應(yīng)力試驗)兩項可靠度試驗，針對訊號完整性SET2DIL(單端阻抗訊號損失試驗)性能測試。
CAF是針對電路板在長期使用下的絕緣可靠度試驗，向來是須有高可靠度要求的終端產(chǎn)品客戶，如伺服器、汽車電子及醫(yī)療電子產(chǎn)業(yè)，對印刷電路板及其材料能力的重點評估項目。UL臺灣的CAF試驗偏壓最高可提供到1000VDC，可滿足絕大部份制造商的測試需求。
IST提供一個快速檢驗電路板導(dǎo)通性能長期可靠度試驗方法，此方法可以縮短傳統(tǒng)溫度循環(huán)測試時間過長的問題(在相同的檢測次數(shù)下, 可縮短12倍的時間)。透過專用測試板及客制化的測試板設(shè)計，可快速提供電路板對導(dǎo)通性能的檢測，以利客戶認證與制程改善檢驗。SET2DIL/Delta-L是Intel主導(dǎo)的測試方法，是針對訊號完整性要求高的電路板，進行高頻訊號性能測試。主要是針對PWB制程與材料評估的重要測試。
UL電子科技產(chǎn)業(yè)大中華區(qū)工程部總監(jiān)蔡英哲指出，「現(xiàn)今電路板設(shè)計追求高品質(zhì)、高密度、高速應(yīng)用，UL是唯一可涵蓋物性、化性及電性的全方位實驗室；加上我們提供測試前諮詢與設(shè)計輔導(dǎo)，以及測試后的失效分析找出關(guān)鍵問題根源，有助制造商優(yōu)化產(chǎn)品，在競爭市場中成為焦點。
蔡英哲進一步表示，「UL臺灣印刷電路板性能實驗室的成立象征進一步提升電路板產(chǎn)業(yè)的整體競爭力，將各種資源做到最充分的整合及發(fā)揮，讓臺灣電路板產(chǎn)業(yè)可以在地完成國際認同的檢驗測試。未來我們也會持續(xù)關(guān)注市場發(fā)展，逐步擴充其他印刷電路板性能測試項目。
該文章轉(zhuǎn)載于：PCB網(wǎng)城
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